产品选择 筛分

使用RETSCH筛分仪能够在10 微米到125 毫米的颗粒粒径范围内以干筛或是湿筛的方式进行颗粒粒径分析。点击仪器型号，自动进入详细信息页面。
进一步的详细咨询，请您联系我们在您当地的代理商。

Sieve Analysis

dry   wet

 

RETSCH Technology为您提供多种光学测量设备，可以对在1 纳米到30 毫米的粒径范围内的颗粒样品进行物理定性测量（粒型和粒径测量）。

Digital Image Processing

dry   wet